ОБРАЗОВАНИЕ СТОЧНЫХ ВОД В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ
В данной статье рассмотрена схема образования сточных вод в процессе производства полупроводниковых изделий, способы очистки вод от нерастворимых соединений.
Для изготовления полупроводниковых изделий используют различные методы. Но во всех случаях в процессе производства повторяется ряд основных технологических операций. Технологический процесс включает операции водного контроля компонентов полупроводниковых материалов, изготовление полупроводниковых материалов и их механическую и химическую обработку, эпитаксиальное наращивание слоя полупроводника, получение защитной диэлектрической пленки, фотолитографическую обработку этой пленки, ионную имплантацию и диффузию примесей для получения активных и пассивных областей структуры, нанесение омических контактов и создание пассивных тонкопленочных компонентов- резисторов и конденсаторов, разделение пластин на кристаллы, сборку и герметизацию приборов, измерение электрических параметров и испытания приборов. [1-7]
Схема технологических процессов образования стоков при производстве полупроводниковых изделий из арсенида галлия в общем виде представлена на рисунке.
Механическая обработка в производстве полупроводниковых приборов заключается в получении заготовок необходимых размеров и форм с требуемым качеством поверхности путем резания слитков на пластины, шлифования, полирования пластин различными механическими и механо- химическими методами [1-6]
В процессе резки выделяется большое количество тепла. Для охлаждения места реза подается охлаждающая жидкость - проточная вода или специальная эмульсия сложного состава, выполняющие одновременно функции антифрикционной жидкости и облегчающие сбор отходов обрабатываемого материала [1,4,6]. Расход жидкости составляет 1,5-2 л/мин. на фрезу [1,6].
До 45 % взвеси исходного продукта содержат сточные воды, образующиеся в процессе резки полупроводниковых пластин. Степень дисперсности зависит от вида резки, скорости резания и толщины режущего диска.
Концентрация взвешенных веществ в сточной жидкости определяется расходом охлаждающей воды.
Операции шлифования и полирования в технологии полупроводниковых приборов выполняют для улучшения плоскостности и плоско- параллельности пластин после резания, подгонки пластин в размер по толщине, получение требуемого класса чистоты поверхности и др.
Шлифование может осуществляться сухим абразивом; как показала практика, наиболее эффективно шлифование производится абразивными водными суспензиями, роль которых сводится к распределению зерен по поверхности шлифовального круга и удалению разрушенных зерен и частиц полупроводника, к снижению трения и отведения теплоты.
Промстоки содержат зерна абразива и частицы разрушенного полупроводника. Дисперсный состав частиц взвеси зависит от твердости и размера исходных абразивных зерен и колеблется в пределах 5... 100 мкм.
Для того чтобы уменьшить повреждения поверхности, оставшиеся после шлифовки, пластины полупроводника подвергают полировке.
Механическую полировку полупроводниковых материалов проводят оптическими, металлографическими или химико-динамическими методами. При металлографической полировке доминируют эффекты резания, а при оптической - тепловые эффекты. Глубина нарушенного слоя для механического полирования порядка 0,7... 1,5 мкм.
При оптической полировке абразивы - окись хрома, окись церия или смесь окисей других редкоземельных металлов - применяют в виде водных суспензий, которые распыляют на полированную плоскость станка для полировки оптических стекол.
При полировке окисью алюминия обычно используют водную суспензию А1203 с добавлением небольшого количества НС1 до получения величины pH = 8,3... 10, окись алюминия агломерирует. Перед полировкой в суспензию добавляют гидроокись калия или натрия [2,6]. Суспензия приготавливается на высокочистой воде.
В процессе полирования образуются стоки, содержащие абразивную пыль, кислоты, щелочи, а также различные вида синтетических алмазов и смачивающих жидкостей.
Химическую обработку применяют для вытравливания окон в маскирующих покрытиях, для удаления его заполимеризованных остатков, для получения контактных площадок и разводки в слое металлизации, для стабилизации и модифицирования электрофизических свойств поверхности полупроводника [1,6,7]. Применяют различные виды травителей (окислители HN03; Н202; Н202; водные растворы КОН, NaOH, растворы галогенов Cl2,Br2,J2).
Сточные воды после химического полирования включают в себя отработанные травильные растворы (H2S04 :Н202: Н20 = 4:1:1 концентрированная плавиковая кислота HF ) или (H2S04 :Н202 : Н20 = 4:1:1 концентрированная плавиковая кислота HF NaOH 1,0 моль/л): Н20 (0,76 моль/л), растворители (трихлорэтилен, ацетон, метанол, этанол и др.), а также продукты химического взаимодействия растворов травления с материалом обрабатываемых деталей.
По концентрации загрязнений они делятся на концентрированные и промывные (малоконцентрированные). К концентрированным относятся стоки, образованные отработанными, загрязненными технологическими растворами. Эти стоки отличаются высокой концентрацией загрязнений и периодичностью сброса.
Таким образом, в ходе производства полупроводниковых приборов образуются сточные воды, содержащие разнообразные виды загрязняющих компонентов. Данные стоки характеризуются весьма малыми расходами, но высокими концентрациями загрязняющих веществ, которые находятся в растворимых и нерастворимых формах. Наиболее распространенным и токсичным загрязняющим компонентом сточных вод является соединения мышьяка от механической и химической обработки изделий, а также процессов эпитаксии, фотолитографии и производства арсина.
Список литературы
Ноздратенко С.А., Акулыпин А.А., Акулыпин А.А.. Исследование процесса очистки сточных вод обратным осмосом. Прогрессивные технологии и процессы. Сборник научных статей 2-й Международной молодежной научно-практической конференции в 3-х томах. 2015. С. 265-268.
Акулыпин А.А., Крыгина А.М., Акулыпин А.А..Очистка сточных вод от нерастворимых форм мышьяка. Известия Юго-Западного государственного университета. №5-2 (38). С. 116-118.
Акулыпин А.А. Исследование состава и методов очистки сточных вод, образующихся в процессе механической обработки полупроводниковых материалов. Тезисы докладов юбилейной конференции ученых Курского политехнического института. 1994.С. 113-114.
Найденко В.В., Губанов Л.И., Акулыпин А.А.. Очистка производственных сточных вод от соединений мышьяка. Водоснабжение и санитарная техника. 1987. №12. С. 6-8 УДК 69.022.32
#АКУЛЫПИН АЛЕКСАНДР АНАТОЛЬЕВИЧ, к.т.н., доцент #АКУЛЫПИН АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, соискатель #ПОЛИВАНОВА СВЕТЛАНА АНДРЕЕВНА, магистрант, гр. ВВ-41М #НОЗДРАТЕНКО СЕРГЕЙ АНДРЕЕВИЧ, студент группы ВВ-31 б #Россия, г. Курск, Юго-Западный государственный университет #viovr[AT]yandex.ru
производство полупроводниковый изделие, очистка сточный вод, механический химический обработка, вод образоваться процесс, производство полупроводниковый прибор, концентрированный плавиковый кислота, образование сточный вод, сточный вод образоваться, процесс производство полупроводниковый, вод процесс производство, образование сточный вод процесс, процесс производство полупроводниковый изделие, сточный вод образоваться процесс, вод процесс производство полупроводниковый, сточный вод процесс производство, полупроводник применять различный вид, применять различный вид травитель, поверхность полупроводник применять различный, электрофизический свойство поверхность полупроводник, модифицирование электрофизический свойство поверхность,